Discipline(s) : Management

AltM01 - Qualité

Type Obligatoire
Nature Module
Crédits ECTS 5
Volume horaire total 77
Volume horaire CM 73
Volume horaire TD 4

Pré-requis

Connaissance Diagramme d’Ishikawa
Quelques connaissances statistiques (loi, normale, moyenne, écart type)
Notion de métrologie et qualité (incertitude de mesure, 5M)
Etre capable de lire et comprendre une fiche AMDEC, 
Savoir conduire une étude AMDEC,
Etre capable de construire et mettre en œuvre le pilotage d’une démarche AMDEC.
Connaître les outils de base de la qualité.
Maîtrise les fondamentaux des démarches QSE

Objectifs

Comprendre l’importance de placer le client au centre de l’organisation d’une entreprise. Devenir des interlocuteurs pertinents de leurs futurs clients. Découvrir les principes de base de la sécurité alimentaire. Connaître les principaux acteurs de la sécurité alimentaires et de la réglementation en vigueur. Découvrir les outils de la qualité. Maîtrise de la méthode HACCP.
Découvrir et utiliser les notions de statistiques appliquées à la maîtrise des procédés de fabrication.

Contenu

Management de la qualité et normes ISO  et les autres référentiels
Management de la qualité et normes ISO : ISO 9001 V2015
Audit: formation à l'audit interne
Audit: aspects relationnels de l'audit
Sécurité alimentaire, ISO 22000 et HACCP
Mise en œuvre de l'AMDEC
Outils informartisés QSE
Les fondamentaux des statistiques
MSP
Satisfaction clietn
Plan d'exprérience
 

Bibliographie

Sites DGAL, ANSES, INFOSAN,DDPP, ANIA,EFSA,LEGIFRANCE, GALATEEPRO, Ministère de l’agriculture
Documents : Paquet Hygiène, Food Law, ISO 22000, Guide d’aide à la gestion des alertes d’origine alimentaire
Maurice Pillet « Appliquer la maîtrise statistique des processus (MSP/SPC) » 4ème édition Eyrolles Editions d’Organisation (2008)
NF ISO 7870-6 Avril 2016 cartes de contrôle - Partie 6 : cartes de contrôle de EWMA - Méthode statistiques en management de processus - cartes de contrôle - Partie 6 : cartes de contrôle EWMA 
NF X06-031-2 Décembre 1995  Application de la statistique - Cartes de contrôle - Partie 2 : cartes de contrôle aux attributs
NF X06-031-1 Décembre 1995 Application de la statistique - Cartes de contrôle - Partie 1 : cartes de contrôle de Shewhart aux mesures NF ISO 22514-7 Janvier 2013 Méthodes statistiques dans la gestion de processus - Aptitude et performance - Partie 7 : aptitude des processus de mesure
CIPE (Centre International de la Pédagogie d’Entreprise) 40, Boulevard Edgar Quinet 75014 Paris (France). Support « jeu ppm- zéro défaut.
Pratique de l’AMDEC, Jean FAUCHER, Edition DUNOD
AMDEC guide pratique, Gérard Landy, AFNOR
AMDEC Produit Processus, Travaux de recherches de l’ENS de Cachan
 

Contrôles des connaissances

Examen écrit, travail en équipe, QCM, études de cas, présentation orale.